激光粒度儀在我國發(fā)展迅速*在不斷
點擊次數(shù):1602 發(fā)布時間:2017-03-07
激光粒度儀在我國發(fā)展迅速*在不斷
激光粒度儀根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的,見附圖,具有測量的動態(tài)范圍大、測量速度快、操作方便等優(yōu)點,是一種適用面較廣的粒度儀。原理上可以用于測量各種固體粉末、乳液顆粒、霧滴的粒度分布,現(xiàn)實的儀器一般根據(jù)具體的用途作具體的設(shè)計。
光在行進(jìn)中遇到微小顆粒時,會發(fā)生散射。大顆粒的散射角較小,小顆粒的散射角較大。儀器能接收的散射角越大,則儀器的測量下限就越低,適應(yīng)惡劣工作環(huán)境、性價比高等優(yōu)點,借鑒國外粒度儀先進(jìn)平臺而打造出的一款全新儀器。該儀器測試性能更強(qiáng)、性價比更高,將會給粉體行業(yè)帶來清新的感覺。
激光粒度儀測量固體粉末或乳液中顆粒的粒度分布,利用顆粒對光的散射現(xiàn)象,根據(jù)散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。歐美克通過對光學(xué)、機(jī)械、電子、計算機(jī)等系統(tǒng)的整合和優(yōu)化,使歐美克激光粒度儀具備重復(fù)性良好、動態(tài)測量范圍寬廣、操作簡單方便等優(yōu)點。當(dāng)光束前進(jìn)過程中遇到顆粒時,將發(fā)生散射現(xiàn)象,散射光與光束初始傳播方向形成一個夾角θ,散射角的大小與顆粒的粒徑相關(guān),顆粒越大,產(chǎn)生的散射光的θ角就越小;顆粒越小,產(chǎn)生的散射光的θ角就越大。這樣,激光粒度儀測量不同角度上的散射光的強(qiáng)度,就可以得到樣品的粒度分布了。
激光粒度儀利用光的散射原理測量粉顆粒大小的,是一種當(dāng)前粒度測量領(lǐng)域應(yīng)用zui廣泛的的粒度儀。其特點是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便,尤其適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。激光粒度儀作為一種測試性能優(yōu)異和適用領(lǐng)域極廣的粒度測試儀器,已經(jīng)在其它粉體加工與應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。
隨著粉體技術(shù)的發(fā)展,對粒度分析儀的性能要求在逐步的提高,特別是粒度儀的量程要求越來越寬。測量下限要求達(dá)到幾百甚至幾十個納米,測量上限要求達(dá)到一千甚至幾千微米。這對新型激光粒度儀設(shè)計者提出了極大的挑戰(zhàn)。激光粒度儀采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。
激光粒度儀根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的,見附圖,具有測量的動態(tài)范圍大、測量速度快、操作方便等優(yōu)點,是一種適用面較廣的粒度儀。原理上可以用于測量各種固體粉末、乳液顆粒、霧滴的粒度分布,現(xiàn)實的儀器一般根據(jù)具體的用途作具體的設(shè)計。
光在行進(jìn)中遇到微小顆粒時,會發(fā)生散射。大顆粒的散射角較小,小顆粒的散射角較大。儀器能接收的散射角越大,則儀器的測量下限就越低,適應(yīng)惡劣工作環(huán)境、性價比高等優(yōu)點,借鑒國外粒度儀先進(jìn)平臺而打造出的一款全新儀器。該儀器測試性能更強(qiáng)、性價比更高,將會給粉體行業(yè)帶來清新的感覺。
激光粒度儀測量固體粉末或乳液中顆粒的粒度分布,利用顆粒對光的散射現(xiàn)象,根據(jù)散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。歐美克通過對光學(xué)、機(jī)械、電子、計算機(jī)等系統(tǒng)的整合和優(yōu)化,使歐美克激光粒度儀具備重復(fù)性良好、動態(tài)測量范圍寬廣、操作簡單方便等優(yōu)點。當(dāng)光束前進(jìn)過程中遇到顆粒時,將發(fā)生散射現(xiàn)象,散射光與光束初始傳播方向形成一個夾角θ,散射角的大小與顆粒的粒徑相關(guān),顆粒越大,產(chǎn)生的散射光的θ角就越小;顆粒越小,產(chǎn)生的散射光的θ角就越大。這樣,激光粒度儀測量不同角度上的散射光的強(qiáng)度,就可以得到樣品的粒度分布了。
激光粒度儀利用光的散射原理測量粉顆粒大小的,是一種當(dāng)前粒度測量領(lǐng)域應(yīng)用zui廣泛的的粒度儀。其特點是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便,尤其適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。激光粒度儀作為一種測試性能優(yōu)異和適用領(lǐng)域極廣的粒度測試儀器,已經(jīng)在其它粉體加工與應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。
隨著粉體技術(shù)的發(fā)展,對粒度分析儀的性能要求在逐步的提高,特別是粒度儀的量程要求越來越寬。測量下限要求達(dá)到幾百甚至幾十個納米,測量上限要求達(dá)到一千甚至幾千微米。這對新型激光粒度儀設(shè)計者提出了極大的挑戰(zhàn)。激光粒度儀采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。