激光粒度儀采用MIE散射原理，可以對(duì)流動(dòng)的顆粒粒度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，并提供準(zhǔn)確的控制信號(hào)。對(duì)于粉磨，分級(jí)生產(chǎn)過(guò)程中的工藝控制具有非常重要的意義。是企業(yè)節(jié)能降耗提高產(chǎn)品質(zhì)量的可靠助手。

   激光粒度儀能夠滿足一般企業(yè)工業(yè)測(cè)試的常規(guī)要求，采用Mie式散射原理和匯聚光傅立葉變換光路以及分檔測(cè)試方法，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。全內(nèi)置濕法循環(huán)分散系統(tǒng)，解決大顆粒在管道中沉積的難題，的無(wú)約束擬合數(shù)據(jù)處理技術(shù)與強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理軟件相結(jié)合，保證測(cè)試結(jié)果的真實(shí)可靠。 

   激光粒度儀采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。激光粒度儀顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。

   激光粒度儀運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。無(wú)約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè)，激光粒度儀通過(guò)光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測(cè)器設(shè)計(jì)和粒度分級(jí)，給設(shè)備本身提出很高的要求。

   激光粒度儀采用*的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測(cè)器陣列和合理的粒度分級(jí)，從而能夠準(zhǔn)確地測(cè)量顆粒群的粒度分布。HG200-R2002型濕法激光粒度分析儀技術(shù)特點(diǎn)：測(cè)試穩(wěn)定的基礎(chǔ)：只有系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的光信號(hào)，才能夠充分保證測(cè)試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定。激光粒度儀保證測(cè)試數(shù)據(jù)可靠首先是信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)合理，被測(cè)樣品分散效果的優(yōu)劣和被測(cè)分散液的均勻程度是得出真實(shí)結(jié)果的另一決定性因素。

   激光粒度儀光電探測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)*，靈敏度高，主檢測(cè)器一個(gè)，輔助檢測(cè)器多個(gè)，采用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列，zui大檢測(cè)角達(dá)到90度，充分保證了信號(hào)探測(cè)的全面性。采用一個(gè)量程設(shè)計(jì)，會(huì)聚光路*，減少了傅立葉透鏡組，使測(cè)量范圍更寬，分辨率更高，光路免調(diào)。激光粒度儀超聲時(shí)間全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)調(diào)節(jié)，設(shè)置時(shí)間數(shù)字顯示，超聲時(shí)間0~9分50秒連續(xù)可調(diào), 可根據(jù)樣品分散的難易程度設(shè)置超聲時(shí)間，良好的屏蔽處理使超聲分散和樣品測(cè)試可同時(shí)進(jìn)行，即使具有*團(tuán)聚性的顆粒也能夠充分分散以獲得真實(shí)的粒度分布數(shù)據(jù)。

   激光粒度儀采用連續(xù)可調(diào)的攪拌和循環(huán)充分保證了分散液的均勻度。攪拌系統(tǒng)：根據(jù)被測(cè)樣品的特性選擇合適的攪拌速度，防止顆粒沉淀，使分散液混合均勻，攪拌轉(zhuǎn)速全自動(dòng)操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào)，設(shè)置速度數(shù)字顯示，激光粒度儀攪拌轉(zhuǎn)速0~3000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào)，測(cè)試過(guò)程中同時(shí)開(kāi)啟超聲可避免因攪拌速度過(guò)快產(chǎn)生氣泡造成的測(cè)試誤差。