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顆粒測(cè)試學(xué)術(shù)論文集
點(diǎn)擊次數(shù):3205 發(fā)布時(shí)間:2008-12-25
第六屆全國顆粒測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議是由中國顆粒學(xué)會(huì)顆粒測(cè)試專業(yè)委員會(huì)主辦,濟(jì)南微納儀器有限公司承辦的性顆粒界的盛會(huì)。會(huì)議于2005年4月在井岡山成功舉辦。顆粒測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議每三年一屆,與會(huì)人員除了國內(nèi)顆粒界的人員以外,還有很多國外的專家、學(xué)者。
我公司現(xiàn)有少量《中國粉體技術(shù)》專輯一書,詳細(xì)登載了顆粒測(cè)試會(huì)議的全部學(xué)術(shù)論文。論文包括顆粒測(cè)試方法的研究以及應(yīng)用,幾乎涵蓋了目前顆粒測(cè)試的所有相關(guān)內(nèi)容。
本書原價(jià)150元,現(xiàn)五折銷售。數(shù)量有限,如有需要者,請(qǐng)盡快與我公司。:
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