激光粒度儀未來市場競爭激烈 
    激光粒度儀是根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的，見附圖。具有測量的動態(tài)范圍大、測量速度快、操作方便等優(yōu)點，是一種適用面較廣的粒度儀，可以用于測量各種固體粉末、乳液顆粒、霧滴的粒度分布，現(xiàn)實的儀器一般根據(jù)具體的用途作具體的設計。
    激光粒度儀利用顆粒對光的散射現(xiàn)象，根據(jù)散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。歐美克通過對光學、機械、電子、計算機等系統(tǒng)的整合和優(yōu)化，使歐美克激光粒度儀具備重復性良好、動態(tài)測量范圍寬廣、操作簡單方便等優(yōu)點。當光束前進過程中遇到顆粒時，激光粒度儀將發(fā)生散射現(xiàn)象，散射光與光束初始傳播方向形成一個夾角θ，散射角的大小與顆粒的粒徑相關，顆粒越大，產(chǎn)生的散射光的θ角就越小。顆粒越小，激光粒度儀產(chǎn)生的散射光的θ角就越大。這樣，測量不同角度上的散射光的強度，就可以得到樣品的粒度分布了。
　　激光粒度儀利用光的散射原理測量粉顆粒大小的，是一種當前粒度測量領域應用zui廣泛的的粒度儀。其特點是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便，尤其適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。激光粒度儀作為一種測試性能優(yōu)異和適用領域極廣的粒度測試儀器，已經(jīng)在其它粉體加工與應用領域得到廣泛的應用。
    隨著粉體技術的發(fā)展，對激光粒度儀的性能要求在逐步的提高，特別是粒度儀的量程要求越來越寬，測量下限要求達到幾百甚至幾十個納米，測量上限要求達到一千甚至幾千微米。這對新型激光粒度儀設計者提出了極大的挑戰(zhàn)。
　　顆粒越細，散射光的角度越小，微小顆粒的散射光甚至在360度范圍內(nèi)都有分布。為了拓展儀器的測量下限，需要有非常規(guī)的光學設計。顆粒越小，分布在360度空間范圍的散射光光強差越小，當顆粒小到一定極限，光強差將小得幾乎難以被分辨出來。這時就到了激光粒度儀的測量下限了。光學設計上的障礙和散射光本身的特性決定了常規(guī)激光粒度儀的測量下限一般在0.02微米左右。
　　激光粒度儀采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。激光粒度儀采用*的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級，從而能夠準確地測量顆粒群的粒度分布。